日本yokowods測(cè)試夾的技術(shù)檢測(cè)

　　日本yokowods測(cè)試夾新型涉及電測(cè)試儀用的測(cè)試夾，包括殼體、微動(dòng)開關(guān)、測(cè)試電極等，其特點(diǎn)是二內(nèi)空的條狀殼體的前端分別設(shè)有向外伸出的電極，其中一殼體內(nèi)設(shè)微動(dòng)開關(guān)，它們的電源線穿過殼體內(nèi)腔從其后端引出，殼體后端相互活動(dòng)鉸接，二殼體相對(duì)面前部附近設(shè)有一彈性回復(fù)機(jī)構(gòu)使其前部可相互靠近或分開，微動(dòng)開關(guān)的按鈕伸出于一殼體內(nèi)壁之外，與之對(duì)應(yīng)在另一殼體內(nèi)壁上設(shè)有頂桿。
數(shù)字IC芯片在線/離線功能測(cè)試
⑴[測(cè)試過程]
測(cè)試儀對(duì)被測(cè)數(shù)字IC芯片施加相應(yīng)的測(cè)試代碼，再從被測(cè)器件取回實(shí)際響應(yīng)。通過將實(shí)際響應(yīng)和預(yù)期響應(yīng)進(jìn)行對(duì)比，可發(fā)現(xiàn)功能失效的故障器件。
⑵日本yokowods測(cè)試夾[在線測(cè)試]
使用測(cè)試夾卡住電路板上的被測(cè)IC芯片，依照器件在電路板上的實(shí)際自身連接關(guān)系自動(dòng)生成測(cè)試代碼，直觀顯示"自身連接"和"功能好壞"等測(cè)試信息，以及每一輸出管腳所對(duì)應(yīng)的"測(cè)試代碼、實(shí)際響應(yīng)和預(yù)期代碼"，測(cè)試高效，便于全面分析。
⑶[離線測(cè)試]
使用離線測(cè)試盒對(duì)單個(gè)數(shù)字IC芯片進(jìn)行功能測(cè)試，由于沒有在線因素的影響，故而測(cè)試結(jié)果最為準(zhǔn)確。